公司簡介：

Hammer-IMS是一家源自歐洲比利時的機械制造公司。我們產(chǎn)品所采用的技術(shù)是創(chuàng)新和可持續(xù)發(fā)展的，是多年前在比利時的魯汶大學(xué)內(nèi)創(chuàng)造的。

比利時Hammer-IMS 電池薄膜測厚儀相關(guān)產(chǎn)品型號：

Marveloc-CURTAIN-C、Marveloc-CURTAIN-O、Edge-Vision-4.0-CURTAIN-C、Edge-Vision-4.0-CURTAIN-O、Connectivity 3.0

比利時Hammer-IMS 電池薄膜測厚儀產(chǎn)品介紹：

Hammer-IMS 測量系統(tǒng)是定制的，適合每個項目。對于電池行業(yè)，我們開發(fā)了一套系統(tǒng)，可確保電池薄膜的完整質(zhì)量控制。

我們的系統(tǒng)非常適合測量壓延后涂層薄膜的厚度，其中薄膜通過旋轉(zhuǎn)輥壓縮以達(dá)到所需的線壓力。這確保了電池單元中適當(dāng)?shù)碾姌O潤濕特性和能量密度。準(zhǔn)確的壓延后厚度測量是電池生產(chǎn)中的關(guān)鍵質(zhì)量檢查。

比利時Hammer-IMS 電池薄膜測厚儀優(yōu)勢特點：

? 檢測到50x50微米的針孔和其他異常情況

? 邊緣到邊緣的材料表面分析

? 配備了專業(yè)的線掃描相機

? 與PTP多掃描同步

? 利用 Connectivity 軟件 3.0 進行實時分析

? 光源系統(tǒng)，能夠發(fā)現(xiàn)即使是最小的表面異常。

比利時Hammer-IMS 電池薄膜測厚儀產(chǎn)品應(yīng)用：

? 定量測量：U-Ray 是一種用于定量測量的超聲波技術(shù)，針對 C-Rays（我們的電容技術(shù)）和 M-Rays（我們的毫米波技術(shù)）等電磁方法無效的材料進行了優(yōu)化。它非常適合薄材料的質(zhì)量控制，例如金屬基材上的電池薄膜。

? 厚度測量：共焦光學(xué)傳感器，專為高精度、非接觸式厚度測量而設(shè)計。該裝置包括兩個傳感器頭，用于測量到材料的距離，使系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確確定材料的厚度。與 U 射線頭一樣，共焦激光傳感器也需要定期校準(zhǔn)以確保精確測量。

? 邊緣檢測：對比度傳感器非常適合電池薄膜生產(chǎn)中的邊緣檢測。其高灰度分辨率和快速響應(yīng)時間確保了可靠的檢測，即使是在鋁箔或銅箔等反光材料上也是如此。為了達(dá)到最佳精度，安裝了兩個傳感器（一個位于薄膜的頂部，一個位于薄膜的底部），檢測兩側(cè)的邊緣。該裝置精確測量涂層和箔片之間的邊緣，確保涂層的精確對準(zhǔn)。

比利時Hammer-IMS 電池薄膜測厚儀優(yōu)勢特點：

? 檢測到50x50微米的針孔和其他異常情況

? 邊緣到邊緣的材料表面分析

? 配備了專業(yè)的線掃描相機

? 與PTP多掃描同步

? 利用 Connectivity 軟件 3.0 進行實時分析

? 光源系統(tǒng)，能夠發(fā)現(xiàn)即使是最小的表面異常。

比利時Hammer-IMS 電池薄膜測厚儀相關(guān)產(chǎn)品型號：

Marveloc-CURTAIN-C、Marveloc-CURTAIN-O、Edge-Vision-4.0-CURTAIN-C、Edge-Vision-4.0-CURTAIN-O、Connectivity 3.0

比利時Hammer-IMS 電池薄膜測厚儀產(chǎn)品應(yīng)用：

? 定量測量：U-Ray 是一種用于定量測量的超聲波技術(shù)，針對 C-Rays（我們的電容技術(shù)）和 M-Rays（我們的毫米波技術(shù)）等電磁方法無效的材料進行了優(yōu)化。它非常適合薄材料的質(zhì)量控制，例如金屬基材上的電池薄膜。

? 厚度測量：共焦光學(xué)傳感器，專為高精度、非接觸式厚度測量而設(shè)計。該裝置包括兩個傳感器頭，用于測量到材料的距離，使系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確確定材料的厚度。與 U 射線頭一樣，共焦激光傳感器也需要定期校準(zhǔn)以確保精確測量。

? 邊緣檢測：對比度傳感器非常適合電池薄膜生產(chǎn)中的邊緣檢測。其高灰度分辨率和快速響應(yīng)時間確保了可靠的檢測，即使是在鋁箔或銅箔等反光材料上也是如此。為了達(dá)到最佳精度，安裝了兩個傳感器（一個位于薄膜的頂部，一個位于薄膜的底部），檢測兩側(cè)的邊緣。該裝置精確測量涂層和箔片之間的邊緣，確保涂層的精確對準(zhǔn)。